关闭

当前位置：首页  >  技术文章

20266-24
半导体 AMC 监测全新方案：DK-S4500F-AMC 攻克痕量污染管控痛点

先进制程光刻、薄膜沉积、湿法工艺下，ppb级微量AMC气体就能引发晶圆报废、良率暴跌，成为芯片制造企业长期难以生产痛点。杜克泰克全新推出DK-S4500F-AM...

查看详情 >>
  • 示踪气体监测系统确保工业安全与环境健康

    2024-3-5

  • 紫外吸收分析仪：一种高效、准确的定量分析手段

    2024-2-23

  • 傅立叶红外光谱仪揭秘分子结构和化学成分

    2024-2-21

  • 溶解氧分析仪保障水质安全与水生生态平衡

    2024-2-19

  • 油气井出砂监测仪确保油井安全生产

    2024-2-1

  • 光声光谱多气体分析仪怎么校准？

    2024-1-30

  • 傅立叶红外光谱仪主要检测什么？

    2024-1-24

  • 光声谱多气体监测仪：守护环境安全的“无形之眼”

    2024-1-16

共 267 条记录，当前 19 / 34 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
电话 询价

产品目录