关闭

当前位置：首页  >  技术文章

20266-24
半导体 AMC 监测全新方案：DK-S4500F-AMC 攻克痕量污染管控痛点

先进制程光刻、薄膜沉积、湿法工艺下，ppb级微量AMC气体就能引发晶圆报废、良率暴跌，成为芯片制造企业长期难以生产痛点。杜克泰克全新推出DK-S4500F-AM...

查看详情 >>
  • 傅里叶红外分析仪——解析物质之谜

    2024-1-8

  • 含砂量测定仪的原理和使用

    2023-12-28

  • 什么是激光光声光谱技术？

    2023-12-6

  • 烟气分析仪的采样探头是如何工作的？

    2023-11-2

  • 激光光声检测器是如何抗干扰的？

    2023-10-20

  • SF6泄漏检测在高压设备中的应用

    2023-10-10

  • 光谱气体分析仪的要素和领域介绍

    2023-9-8

  • 傅里叶红外光谱仪在应用方面具有广泛性

    2023-9-1

共 267 条记录，当前 20 / 34 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
电话 询价

产品目录